جرت بعون الله تعالى مناقشة علنية لرسالة طالب الماجستير حسن علون خيون ( ليزر / علوم الفيزياء ) الموسومة :
حيث تألفت لجنة المناقشة من السادة المحترمين
زينب فاضل مهدي استاذ مساعد جامعة بغداد / معهد الليزر للدراسات العليا رئيساً
علوان محمد علوان استاذ مساعد الجامعة التكنولوجية / قسم العلوم التطبيقية عضواً
بشرى رزوقي مهدي مدرس وزارة العلوم والتكنولوجيا عضواً
محمد كريم ظاهر استاذ مساعد جامعة بغداد / معهد الليزر للدراسات العليا مشرفاً
بدءاً قدم الباحث نبذة مختصرة عن موضوع بحثه والنتائج والاستنتاجات التي توصل اليها واخيراً التوصيات الواجب الاخذ بها في الدراسات المستقبلية
وقد اشار الباحث الى انه تم تحضير اغشية ثنائي اوكسيد السليكون (SiO2 ) النانوية الرقيقة بطريقة السول جل عند درجات مختلفة للرقم الهيدروجيني PH للمحلول ( 1,7,9 ) ولنسب مولية متعددة ولدرجات تجفيف حرارية مختلفة
ودرس الباحث وبشكل خاص التغير في جسيمات ثنائي اوكسيد السليكون ( السيلكا ) مع المعلمات المذكورة اعلاه ودراسة الخواص البصرية و التركيبية للاغشية الرقيقة وفحص التركيب لجميع الاغشية المحضرة بواسطة حيود الاشعة السينية (XRD )
بعدها تطرق الباحث الى انه تم الحصول على معامل الانكسار الخطي ومعامل الامتصاص الخطي من خلال اطياف النفاذ والامتصاص لاغشية ثنائي اوكسيد السليكون
وقد اظهرت القياسات البصرية الخطية ان اغشية ثنائي اوكسيد السيلكون النانوية الرقيقة ذات فجوة طاقة مباشرة وانها تقل بزيادة النسب المولية للاغشية الرقيقة وتزداد بزيادة الرقم الهيدروجيني PH وزيادة درجة حرارة التجفيف
كذلك قام الباحث بدراسة الخواص البصرية اللاخطية بواسطة تقنية المسح على المحور الثالث بأستخدام
تلا ذلك مناقشةِ السادة أعضاء لُجنةِ المُناقشة المُحترمين للباحث
وفي نهاية المناقشة اشاد السيد المشرف على الرسالة الاستاذ المساعد الدكتور محمد كريم ظاهر المحترم على الطالب كونه من الطلبة المجدين والمتميزين ويتمتع بحرص عالي من خلال سعيه المتواصل للوصول الى افضل النتائج وكونه من الطلبة الدؤوبين في عملهم .
وقد حصل الطالب حسن علوان خيون عن رسالته المقدمة على درجة الماجستير على تقدير
